GIDL效应

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半导体器件——GIDL篇 - 知乎

2021年9月25日 Impact in NAND:在program时,被inhibit string 发生HCI效应, 边缘WL Vt上浮 (不被inhibit的string, 不存在静电压差,这种效应应该较弱) Mitigation in MOS: 设置边缘dummy WL Applic...知乎

mos管的gidl效应,MOSFET泄漏电流详解-KIA MOS管

2024年1月23日 MOS管的GIDL效应是指在栅极电压较高的情况下,绝缘层下的沟道区域会发生漏电现象的现象。这种现象是由于高电场导致绝缘层中的电子发生穿隧效应,从而形成漏电流。GIDL效应会导致器件...广东可易亚半导体官网

MOS器件理论之DIBL, GIDL

2020年2月20日 2) GIDL (Gate-Induced-Drain-Leakage):栅感应漏极漏电流。我们通常讲MOSFET漏电流(Ioff),都知道是漏源之间亚阈值漏电流,或者Drain到Well的PN结漏电流,或者栅...个人图书馆

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